介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

ZL2690B抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種先進(jìn)的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）測(cè)量。儀器具有操作簡(jiǎn)單、無需數(shù)據(jù)換算、中文菜單顯示、并自帶打印功能、抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試速度在國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品中zui快的優(yōu)點(diǎn)。 

ZL2690B抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理:
      儀器測(cè)量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路測(cè)試回路：
      1、標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與標(biāo)準(zhǔn)電阻網(wǎng)絡(luò)組成，由計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測(cè)試回路的電流幅值及其相位差，并由之算出被測(cè)試品電容容值（CX）和其介質(zhì)損耗（tgδ）。
      2、數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件，采集板和采集計(jì)算機(jī)被鐵盒*浮空屏蔽，儀器外殼地屏蔽；另外使用了光導(dǎo)數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點(diǎn)地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù)，加之計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)百個(gè)電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，使測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定、、可靠。 

ZL2690B抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo):
      1、環(huán)境溫度：0 ～40℃       
      2、相對(duì)濕度：30% ～70% 
      3、供電電源：電壓：220V±10%、頻率：50±1Hz 
      4、外形尺寸：500mm×300mm×400mm 
      5、重量：    約18Kg           
      6、輸出功率：0.6KVA 
      7、顯示分辯率：3位、4位（內(nèi)部全是6位） 
      8、測(cè)量范圍及輸出電壓選擇： 
                 介質(zhì)損耗（tgδ）：±0.00～±999% 
                 試品電容容量（Cx）和加載電壓： 
                 2.5KV檔:≤300nF（300000pF）            3KV檔:≤200nF（200000pF） 
                 5KV檔:≤76nF（76000pF）                   7.5KV檔:≤34nF（34000pF） 
                 10KV檔:≤20nF（20000pF） 
      9、基本測(cè)量誤差： 
                 介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±7個(gè)字（加載電流20uA～500mA） 
                 介質(zhì)損耗（tgδ）：2%±9個(gè)字（加載電流5uA～20uA） 
                 電容容量（Cx）：1.5%±1.5pF

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